TG10S-I系列紅外線涂層測(cè)厚儀

該系列測(cè)厚儀采用紅外線反射接收技術(shù)測(cè)量涂層厚度，可應(yīng)用于各種膠粘涂層的測(cè)量和控制，應(yīng)用范圍廣泛，涂層的底材可以是紙張，牛皮紙，離型紙和塑料薄膜。

本測(cè)厚儀采用國(guó)際上新的核物理探測(cè)技術(shù),信號(hào)采集及厚度控制由工業(yè)計(jì)算機(jī)集中管理,測(cè)量精度高,可長(zhǎng)期連續(xù)運(yùn)行,故障率低,可定制各種規(guī)格測(cè)厚儀。廣泛應(yīng)用于CPP、PE、PS、PA、PET、PC、PVC流延生產(chǎn)線、壓延生產(chǎn)線厚度測(cè)量及控制。

適合產(chǎn)品：CPP、PE、PS、PA、PET、PC、PVC等膜材、片材、板材

性能參數(shù)表

測(cè)量原理

射線測(cè)量原理

射線發(fā)生器將射線投射到被測(cè)基材，一部分被基材吸收，一部分刺穿過(guò)被測(cè)基材后被探測(cè)器接收，系統(tǒng)分析射線的強(qiáng)度變化及被測(cè)基材的厚度相關(guān)特性，計(jì)算出被測(cè)基材的面密度及厚度。射線在穿透被測(cè)材料時(shí)，其強(qiáng)度呈指數(shù)規(guī)律衰減，其衰減公式為：I=I0 e-μh, I為穿過(guò)物體后的射線強(qiáng)度，I0為初始射線強(qiáng)度，μ為衰減系數(shù)也叫吸收系數(shù)，h為被測(cè)材料厚度。

對(duì)于不同的材料，其μ值是不同的，因此使用射線測(cè)量厚度時(shí)必須知道被測(cè)材料的μ值。一般而言密度越大的材料其μ值就越大，比如鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是很大的，相應(yīng)的射線阻擋能力就越強(qiáng)。

激光測(cè)量原理

激光測(cè)厚儀是基于三角測(cè)距原理，使用集成式的三角測(cè)距傳感器測(cè)量出從安裝支架到物體表面的距離，進(jìn)而根據(jù)支架的固定距離計(jì)算得出物體的厚度。當(dāng)被測(cè)物的厚度發(fā)生變化后，激光發(fā)生器發(fā)射的激光照射到被測(cè)物，經(jīng)反射后照射到激光接收器上的位置將發(fā)生位移變化，通過(guò)幾何計(jì)算便可知被測(cè)物厚度的變化量，并將厚度信號(hào)以數(shù)字或曲線方式輸出。

測(cè)厚時(shí)上下兩個(gè)激光位移傳感器對(duì)射并分別測(cè)量被測(cè)體上表面的位置和下表面的位置，計(jì)算后得到被測(cè)體的厚度(如上圖：被測(cè)體厚度h=L-A-B)。

特征激光譜測(cè)量原理

特征激光譜測(cè)量塑料基材上的涂層技術(shù)采用的是特征激光譜測(cè)量技術(shù)，特征激光譜發(fā)生器將激光投射到被測(cè)基材，一部分為被測(cè)基材吸收，一部分刺穿過(guò)被測(cè)基材后被探測(cè)器接收，系統(tǒng)分析接收到的激光強(qiáng)度變化及被測(cè)基材的厚度相關(guān)特性，計(jì)算出被測(cè)基材的面密度及厚度。

具體計(jì)算公式為：I=I0e-gμh, I為穿過(guò)物體后的接收到的激光強(qiáng)度，I0為初始激光強(qiáng)度，μ為線質(zhì)系數(shù)，g 為材料密度，h為被測(cè)材料厚度。

紅外線測(cè)量原理

各類膠粘涂層對(duì)一些特定波長(zhǎng)的紅外光表現(xiàn)出強(qiáng)烈的吸收特性，當(dāng)用這些特定波長(zhǎng)的紅外線照射在涂層物料時(shí)，紅外線會(huì)被涂層物料特定成分吸收部分能量，含特定的成分越多吸收也越多，系統(tǒng)分析接收到的紅外線強(qiáng)度變化及被測(cè)涂層的厚度相關(guān)特性，計(jì)算出被測(cè)涂層的面密度及厚度。

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